膜片電阻采用四探針與兩探針?lè)椒y(cè)試電阻差異

來(lái)源：萬(wàn)利隆電子閱讀量：2000發(fā)布時(shí)間：2018-12-28

薄膜電阻在很多應(yīng)用上都應(yīng)用，在電池設(shè)備中薄膜電阻的使用非常多，可以有效的提高電池的使用率，也可以發(fā)揮電池管理系統(tǒng)中反饋電池?cái)?shù)據(jù)。通?；诒∧る娮钄?shù)值，通過(guò)線性擬合可計(jì)算出材料的真實(shí)電導(dǎo)率，為產(chǎn)品開(kāi)發(fā)提供技術(shù)保障。而測(cè)試電池中的電阻器，采樣兩探與四探針測(cè)試方法最為常見(jiàn)，這兩種方法各有差異。

一、薄膜電阻兩針測(cè)試法

采用兩探針?lè)椒y(cè)試薄膜電阻時(shí)，測(cè)試加載壓力會(huì)對(duì)結(jié)果產(chǎn)生一定影響，一般地，測(cè)試加載壓力升高，電極膜電阻降低，達(dá)到一定值之后，測(cè)試結(jié)果與壓力無(wú)關(guān)。輥壓后極片、組裝電池后新鮮極片、以及經(jīng)歷不同循環(huán)次數(shù)的極片等在不同生命周期時(shí)，表現(xiàn)出不同阻值及測(cè)試加載壓力敏感差異，通過(guò)膜片的壓力敏感差異，可計(jì)算出不同生命周期極片的膨脹厚度變化差異，為極片及鋰電池分析的評(píng)估提供了新的測(cè)量表征方法。

二、薄膜電阻四針測(cè)試

電池中的薄膜電阻的測(cè)試有多種方法，我們最常用的是采用四探針?lè)?、單探針?lè)ǎ贿@些方法對(duì)于薄膜電阻的測(cè)量各有特點(diǎn)，但都存在諸多的不足。傳統(tǒng)四探針儀器是針對(duì)薄層金屬涂層行業(yè)發(fā)展起來(lái)，其主要用于絕緣基底表面上導(dǎo)電涂層電阻的測(cè)量。對(duì)于底層集流體導(dǎo)電性遠(yuǎn)高于涂層導(dǎo)電性的電池膜片，四探針?lè)椒y(cè)試電阻時(shí)，電子流動(dòng)方向平行于集流體，而電池實(shí)際充放電工作時(shí)電子是垂直于集流體方向上傳輸?shù)?，因此這種方法測(cè)試的電阻與實(shí)際工作情況還存在差別。

在很多時(shí)候工程師常常采用此方法將漿料涂布在非導(dǎo)體基底上測(cè)試漿料膜阻抗，通過(guò)電阻率定量分析漿料中導(dǎo)電劑的分布狀態(tài)，從而判斷漿料分散效果的好壞。薄膜電阻在電池中這兩種方法進(jìn)行測(cè)試各有差異，不夠這些方法也是最好進(jìn)行薄膜電池在電池行業(yè)中的測(cè)試手段。

下一篇：鋁合金電阻在汽車點(diǎn)焊技術(shù)使用焊接問(wèn)題上一篇：電路設(shè)計(jì)應(yīng)用電阻需要考慮哪些電阻參數(shù)

此文關(guān)鍵詞：