厚膜電阻應用低頻噪聲測量包括哪些方面

來源：萬利隆電子閱讀量：2000發(fā)布時間：2021-03-31

厚膜電阻在高壓脈沖應力前后歸一化噪聲幅值B0/I2。與擬合參數(shù)B0相反，歸一化后的噪聲振幅無量綱化。出的數(shù)據(jù)類似，1/f噪聲在應用高壓處理時增加了大約一個數(shù)量級。在進行擬合程序后，厚膜電阻在金屬涂膜單元的絕緣層中存在陷阱引起的波動所引起的洛倫茲項可以觀察到電流噪聲譜的輕微彎曲。盡管被1/f噪聲掩蓋，洛倫茲項影響了測量值和理論關系的一致性。高壓脈沖應力前后的電流噪聲譜分析與電阻和噪聲指標的特性一致。值得注意的是，具有中等片狀電阻的電阻器中的傳導機制結合了導電相含量高或低的電阻器中的傳導機制。

厚膜電阻應用低頻噪聲測量包括當前噪聲頻譜和噪聲指數(shù)測量，提供的結果對宏觀和微觀結構的變化比測量的電阻值更敏感。這一事實在可靠性分析中具有特別重要的意義，當厚電阻膜的應變引起電阻的可逆變化時。當基于高片電阻組成的厚膜電阻被關注時，由于導電相的低體積分數(shù)，主要的傳導機制是穿隧穿過玻璃屏障。應力會引起顯著的微觀結構變化，改變屏障電阻，并導致顯著的電阻下降，類似于在電阻的基礎上看到的中片電阻組成。

厚膜電阻實驗數(shù)據(jù)表明，噪聲指標值與電阻行為一致，即隨著電阻的逐漸減小，NI值逐漸增加，在電阻減小的停滯期達到恒定值(飽和)對厚膜電阻的機械應變和電應變的研究表明，這兩種類型的應變對這些復雜的納米結構的行為有相反的影響。檢查機械和電氣應變對厚膜電阻同時產(chǎn)生的影響對于敏感設備的開發(fā)是特別有趣的，因為機械和電氣應變同時產(chǎn)生可能會影響電阻承受高壓處理的能力。

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