金屬箔電阻負(fù)載壽命穩(wěn)定性與溫度升高有什么關(guān)系

來源：萬利隆電子閱讀量：2000發(fā)布時(shí)間：2019-09-06

金屬箔電阻負(fù)載壽命穩(wěn)定性會(huì)受到很多影響的影響，一般金屬箔電阻的TCR與穩(wěn)定性之間存在密切的關(guān)系，尤其是一些高精密的金屬箔片電阻，在一些特殊的電子元器件中必須使用金屬箔電阻來達(dá)到電路設(shè)計(jì)，如何保持金屬箔電阻的負(fù)載壽命穩(wěn)定性是電路設(shè)計(jì)關(guān)鍵因素，因此很多工程師都在設(shè)計(jì)的時(shí)候非常重金屬箔電阻散熱性的問題。

由于金屬箔片電阻利用箔片的兩個(gè)特性來實(shí)現(xiàn)低TCR。鋁箔的電阻隨著溫度的升高而自然增大。金屬箔電阻的制造是為了使溫度升高引起箔片的壓縮。這使得電阻隨著溫度的升高而降低。總的效果是電阻隨溫度變化很小。

金屬箔電阻容差是指實(shí)際電阻與標(biāo)稱電阻的距離。例如，一家公司可能銷售的電阻廣告是100歐姆的公差為1%。這意味著其中一個(gè)電阻的實(shí)際值可以從99歐姆到101歐姆不等。鋁箔電阻的公差可低至0.001%。

金屬箔電阻與其他電阻一起使用時(shí)，特別是線繞電阻，可以在電路中引入電感和電容。這可以改變電路對(duì)頻率變化的響應(yīng)方式，并在脈沖通過電阻器時(shí)產(chǎn)生失真。鋁箔電阻的內(nèi)部形狀，特別是為了盡量減少這種影響。負(fù)載壽命的穩(wěn)定性是衡量電阻在不同負(fù)載和溫度下使用時(shí)，在一段時(shí)間內(nèi)保持恒定電阻值的能力。由于他們的結(jié)構(gòu)箔電阻在這方面是非常穩(wěn)定的。

目前市場(chǎng)上金屬箔電阻中Microhm的產(chǎn)品系列在市場(chǎng)中構(gòu)成重要組成部分。在金屬箔電阻市場(chǎng)提供表面安裝式，如NMS2818,NMS4527,NSR系列和MPR系列，以及徑向型，包括To247型電阻，To218型電阻和MVR系列。其優(yōu)良的精度和穩(wěn)定性是由于幾個(gè)特性的結(jié)合，這是遵循金屬箔電阻的設(shè)計(jì)原則。

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