電流檢測(cè)分流器除了考慮TCR溫漂，為什么還需要考慮電阻自加熱問題

來源：萬利隆電子閱讀量：2000發(fā)布時(shí)間：2019-04-02

電阻加熱是基于電力的加熱方法，可加熱金屬、熔融金屬或非金屬，效率幾乎可達(dá)到100%，同時(shí)工作溫度可達(dá)到2000℃。故而可應(yīng)用于高溫加熱，也可應(yīng)用于低溫加熱。像傳統(tǒng)的利用埋入模具中的電熱元件加熱模具的方法就屬于間接電阻加熱。其間接電阻加熱是讓電流通過電熱元件或?qū)щ娊橘|(zhì)，例如電阻絲、熱敏電阻(PTC)、電熱膜等，使電熱元件首先發(fā)熱，然后利用電熱元件產(chǎn)生的熱量以熱傳導(dǎo)、熱對(duì)流或熱輻射等方式間接加熱目標(biāo)物體。

電流檢測(cè)分流器我們也通常稱為分流電阻器，這種分流電阻受到P = I2R（由歐姆定律導(dǎo)出）計(jì)算的功率損耗。因此，為了保持低熱耗散以避免自加熱及其電阻本身的影響，分流器器件制造商提供低至毫歐和微歐區(qū)域的可用電阻值范圍。

當(dāng)比較不同的電流測(cè)量電阻時(shí)，單獨(dú)的TCR不能提供關(guān)于工作溫度范圍內(nèi)預(yù)期精度的足夠信息，因?yàn)殡娏鳈z測(cè)分流器不僅會(huì)隨環(huán)境溫度而變化，還會(huì)因自熱而變化。因此，另一個(gè)參數(shù)發(fā)揮作用：PCR電阻功率系數(shù)。如果TCR裝置的自熱效率顯著降低，那么由于PCR效應(yīng)，TCR裝置的劣勢(shì)可以提供比其競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手更準(zhǔn)確的讀數(shù)。

假設(shè)由于其較窄的TCR，B型電阻將顯示更準(zhǔn)確的結(jié)果。假設(shè)兩種類型的R =100mΩ，根據(jù)所使用的結(jié)構(gòu)或技術(shù)，自加熱顯示出非常不同的值。列如TCR為±40 ppm的B型加熱100 K，而TRL為±50 ppm的KRL系列金屬箔電阻只能加熱60 K.

為了應(yīng)對(duì)不斷增加的待測(cè)電流，還必須調(diào)整電流檢測(cè)分流器的性能規(guī)格。這是使用各種技術(shù)完成的，例如在結(jié)構(gòu)中作為多層電阻，箔或彎曲的固體金屬作為電阻元件。根據(jù)技術(shù)和材料特定的可能性，這些電阻器的指定方式不同，電流檢測(cè)分流器的最大額定功率通常由其熱限制決定。為此目的，例如在芯片頂部和/或其觸點(diǎn)處測(cè)量溫度。達(dá)到極限溫度時(shí)，功耗降低能力開始降低。因此，可以保持給定電阻值的最大功率損耗在很大程度上取決于部件的散熱能力。為避免功率降額，制造商努力避免在電阻器設(shè)計(jì)中出現(xiàn)所謂的熱點(diǎn)。

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