插件電阻應(yīng)用工程設(shè)備上為什么要進(jìn)行電阻溫度沖擊測試

來源：萬利隆電子閱讀量：2000發(fā)布時(shí)間：2019-03-20

插件電阻使用范圍非常廣泛，目前很多行業(yè)對插件電阻的需求越來越多，尤其是在工程設(shè)備儀器上對插件電阻的需求量每年都在上升。在工程設(shè)備上使用插件電阻通常進(jìn)行溫度沖擊測試，而熱沖擊試驗(yàn)常被稱作溫度沖擊試驗(yàn)或者溫度循環(huán)，高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)。溫度沖擊按照GJB的說法，是裝備周圍大氣溫度的急劇變化，溫度變化率大于10度/min，即為溫度沖擊。

插件電阻溫度沖擊試驗(yàn)的目的是工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)插件電阻產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷；插件電阻產(chǎn)品定型或設(shè)計(jì)鑒定和量產(chǎn)階段用于驗(yàn)證產(chǎn)品對溫度沖擊環(huán)境的適應(yīng)性，為設(shè)計(jì)定型和量產(chǎn)驗(yàn)收決策提供依據(jù)；作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用時(shí)，目的是剔除插件電阻產(chǎn)品的早期故障。

插件電阻溫度沖擊的應(yīng)用，在電子設(shè)備和元器件中發(fā)生溫度變化的情況很普遍。當(dāng)設(shè)備未通電時(shí)，設(shè)備內(nèi)部零件要比其外表面上的零件經(jīng)受的溫度變化慢。當(dāng)設(shè)備從溫暖的室內(nèi)環(huán)境轉(zhuǎn)移到寒冷的戶外環(huán)境，或相反情況時(shí)；當(dāng)設(shè)備遇到淋雨或浸入冷水中而突然冷卻時(shí)；安裝于外部的機(jī)載設(shè)備中，在某些運(yùn)輸和貯存條件下。

這種情況下儀器設(shè)備通電后，設(shè)備中會產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，插件電阻會經(jīng)受應(yīng)力，例如，在大功率插件電阻旁邊，輻射會引起鄰近電子元器件表面溫度升高，而其他部分仍然是冷的。當(dāng)冷卻系統(tǒng)通電時(shí)，人工冷卻的電子元器件會經(jīng)受快速的溫度變化。在設(shè)備的制造過程中同樣可引起插件電阻的快速溫度變化，溫度變化的次數(shù)和幅度以及時(shí)間間隔都是很重要的。

此外，溫度沖擊通常對靠近裝備外表面的部分影響更嚴(yán)重，離外表面越遠(yuǎn)，插件電阻溫度變化越慢，影響越不明顯。運(yùn)輸箱、包裝等還會減小溫度沖擊對封閉的裝備的影響，急劇的溫度變化可能會暫時(shí)或永久地影響裝備的工作。

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